集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操作中的不当等问题。
关寒怡失效分析由纳瑞科技应用服务栏目发布,感谢您对纳瑞科技的认可,以及对我们原创作品以及文章的青睐,非常欢迎各位朋友分享到个人网站或者朋友圈,但转载请说明文章出处“失效分析”
上一篇离子束加工的四种典型应用是什么意思
下一篇特殊样品加工
提交评论
关寒怡FIB试剂结冻了还能用吗?
关寒怡修改芯片里的信息怎么改
关寒怡扫描电镜和透射电镜的区别成像
关寒怡电子束和离子束如何聚焦